SRM1155a不锈钢Cr18Ni12Mo2标准品(NIST)

SRM1155a不锈钢Cr18Ni12Mo2标准品(NIST)  旨在与基于化学过程和仪器技术的元素分析测试方法一起使用。 SRM 1155a 的一个单元是一个直径 3.2 厘米、厚 1.9 厘米的实心圆盘。

认证的质量分数值：

认证的质量分数值在表 1 [1] 中提供。赋值类别基于 NIST 用于化学参考物质 [2] 认证的术语和模式的定义。 NIST 认证值是 NIST 对其准确性有最高置信度的值，因为所有已知或可疑的偏见来源已被调查或考虑。认证值是根据 NIST 和合作实验室进行的分析结果对真实值的当前最佳估计。

参考质量分数值：

参考质量分数值在表 2 中提供。参考值是未经认证的值，是当前对真实值的最佳估计；但是，这些值不符合 NIST 的认证标准 [2]，并且提供了相关的不确定性，这些不确定性可能仅反映测量精度，不包括所有不确定性来源，或者可能反映多种分析方法之间缺乏足够的一致性。

信息质量分数值：

表 3 中提供了信息质量分数值。信息值被认为是 SRM 用户感兴趣的值，但没有足够的信息来评估与值相关的不确定性 [2] .信息值不能用于建立计量可追溯性。

认证到期：

SRM1155a不锈钢Cr18Ni12Mo2标准品(NIST)   的认证在规定的测量不确定度范围内无限期有效，前提是按照本证书中给出的说明处理和存储 SRM（参见“使用说明"）。因此，不需要定期重新校准或重新认证此 SRM。如果 SRM 损坏、污染或以其他方式修改，则认证无效。

SRM 认证的维护：

NIST 将在其认证期间监控此 SRM。如果发生影响认证的实质性技术变化，NIST 将通知购买者。注册（见附件或在线注册）将有助于通知。

使用说明

测试面是没有标有SRM编号和菱形标志的那一面。该装置的整个厚度都经过认证。每个封装的磁盘都是通过使用铣床完成测试表面来准备的。用户必须为每种分析技术确定正确的表面处理程序。提醒用户在重修磁盘或进行额外抛光时要小心，因为这些过程可能会污染磁盘表面。材料应存放在其原始容器中，置于阴凉干燥的地方。使用实心圆盘和由圆盘制备的芯片测试该材料。

均匀性测试的结果表明，在对这种材料进行取样时应小心。对于需要材料碎裂的测试方法，建议的最小样品量为 200 毫克。对于直接测量磁盘表面的测试方法，建议仔细选择测量区域。火花源和辉光放电测量应在表面的四个或更多不同位置进行； X 射线荧光法应观察 SRM 单位至少四分之一的表面积。该材料不适合用于小面积的直接测量方法，例如微 X 射线荧光和激光烧蚀技术。