SRM 640f 硅粉（X射线衍射仪校正标准品）

SRM 640f 硅粉（X射线衍射仪校正标准品）旨在通过粉末衍射法确定，校准X射线衍射线位置和线形。一瓶SRM 640f 硅粉7.5g。

SRM 640f 硅粉（X射线衍射仪校正标准品）由超高纯度的本征硅晶锭制成，这些晶锭经过粉碎和喷射研磨，中值粒径为 4.1 μm。 然后将所得粉末在 1000 °C 的吸气氩气下退火两小时 [1] 并在氩气下装瓶。 X 射线粉末衍射数据的分析表明 SRM 材料在衍射特性方面是均匀的。

认证值：22.5 °C 温度下的认证晶格参数为

0.543 114 4 nm ± 0.000 008 nm

由该值及其扩展不确定度 (k = 2) 定义的区间主要由 B 类不确定度决定，该不确定度是从对测量数据及其分布的技术理解中估计出来的。 NIST 认证值是 NIST 对其准确性有最高信心的值，因为所有已知或可疑的偏差来源都已被调查或考虑在内。 认证值和不确定度是根据 ISO/JCGM 指南 [2] 中描述的方法计算的。 被测量是晶格参数。 计量溯源性是长度的 SI 单位，以纳米表示。

信息值：认证数据的分析包括对洛伦兹分布的全宽半最大值 (FWHM) 进行细化，以说明样本引起的展宽。 FWHM 项随 1/cos θ 变化的角度依赖性被解释为尺寸引起的展宽。获得的值与大约 0.4 µm 的平均体积加权域尺寸一致。术语随 tan θ 变化，解释为微应变，细化为零。计算峰值位置的信息值在表 1 中给出。通过激光散射确定的典型粒度分布在图 1 中给出。信息值被认为是 SRM 用户感兴趣的值，但不够充分可用信息来评估与该值相关的不确定性。信息值不能用于建立计量溯源性。

认证到期：NIST SRM 640f - 硅粉 标准品 的认证在规定的不确定性范围内无限期有效，前提是按照本证书中的说明处理和存储 SRM，不需要对此 SRM 进行定期重新认证。如果 SRM 损坏、污染或以其他方式修改，则认证无效。