SRM3600小角度X射线散射强度校准 (NIST)

SRM3600小角度X射线散射强度校准 (NIST)旨在用于小角度 X 射线散射 (SAXS) 仪器的散射强度校准。 SAXS 测量表征了异质材料系统的微观结构和纳米结构：特别是微米级和纳米级特征的尺寸分布，以及散射强度校准，它们的体积分数或数量浓度，以及它们的表面积 [1]。

规格：

 SRM 3600 的一个单元由一个大约尺寸为 10 mm x 10 mm x 1 mm 的玻璃碳试样组成。

认证值：

认证值是绝对 X 射线散射强度，以每单位玻璃碳样品体积的 X 射线微分散射截面 dΣ/dΩ 与散射矢量的幅度 Q 的关系给出.图 1 显示了超小角 X 射线散射 (USAXS) 仪器的示意图，该仪器是用于测量经认证的 X 射线散射强度值的主要仪器。经认证的 dΣ/dΩ 值列于表 1 中经认证的 Q 范围为 0.008 Å–1 至 0.25 Å–1，并绘制在图 2 中。 NIST 认证值是 NIST 对其准确性有最高置信度的值，因为所有已知或可疑的偏差来源都已被调查或考虑 [2]。认证值基于在环境条件下进行的测量。

信息值：

 SRM 3600 试样的平均厚度是 1.055 毫米 ± 0.025 毫米，基于对 56 个试样中的每一个进行两次独立的微米厚度测量。与数值一起列出的不确定性是覆盖因子 k = 2 的扩展不确定性，对应于 95% 的置信区间，预期单个试样，并且来自重复测量的标准偏差。信息值被认为是可能对 SRM 用户有用的值，但没有足够的信息来评估与该值相关的不确定性或仅是有限的

储存和使用说明

储存：SRM3600小角度X射线散射强度校准 (NIST)应储存在提供的塑料膜盒内，环境干燥，远离过多的水分或热量（最高 60 °C）。 SRM 3600 玻璃碳材料已被证明可在较长时间内保持稳定，用于校准目的，在这些储存条件下具有无限的保质期 [5]。

用途：要使用 SRM 3600 使用带有二维 (2D) 位置敏感检测器 (PSD) 的传统 SAXS 仪器为“未知"样品提供 SAXS 强度校准，必须遵循几个步骤。使用根据需要使用衰减器来保护 2D PSD 免受入射 X 射线束的影响（空白、样品和标准品的衰减相同），测量样品 TS 和标准品 TSTD 相对于入射光束（空白) 在 Q = 0 处测量的强度，其中 Q = (4π/λ)sinθ，λ 是 X 射线波长，θ 是一半散射角 [1]。还可以从这些传输测量中确定 2D PSD 上的入射光束位置。然后，用一个光束挡板保护 2D PSD 免受入射 X 射线束的影响，在相同条件下对“未知"样品、空白（不存在样品）和电子背景（X 射线）进行 SAXS 测量光束关闭）和 SRM 3600 标准试样。将每个 2D PSD 像素的所有测量强度归一化为入射光束强度，然后减去每个像素的电子背景。对于样品和标准品，分别减去每个 PSD 像素的空白散射，分别由因子 TS 或 TSTD 衰减。然后相对于探测器上的入射光束位置（Q = 0 的位置）对 2D PSD 数据进行循环平均，并除以各自的透射率 TS 或 TSTD 以及样品或标准厚度 τS 或 τSTD。请注意，对于 SRM 3600，应使用 τSTD = 1.055 mm。