SRM 640f 硅粉标准品

背景：

       从衍射数据的质量来评估X射线粉末衍射仪的性能。主要衍射数据为衍射峰的位置（布拉格角2θ），衍射的强度（衍射峰的积分强度I和各测量点强度Y）和衍射峰的峰形（半峰宽H及分辨率）。一组好的衍射数据能说明有关的测量部件和他们的连接是好的、合格的。从衍射数据的质量来评估X射线粉末衍射仪的性能。主要衍射数据为衍射峰的位置（布拉格角2θ），衍射的强度（衍射峰的积分强度I和各测量点强度Y）和衍射峰的峰形（半峰宽H及分辨率）。一组好的衍射数据能说明有关的测量部件和他们的连接是好的、合格的。

【NIST SRM 640f 硅粉标准品】

主要用途：美国NIST的 SRM 640f 硅粉标准品旨在用作校准衍射线位置和线形的标准，通过粉末衍射法确定。

包装规格：一瓶SRM 640f 硅粉标准品 由大约 7.5 克装在氩气下的硅粉组成。

材料：SRM 640f 硅粉标准品由超高纯度的本征硅晶锭制成，这些晶锭经过粉碎和喷射研磨，中值粒径为 4.1 μm。 然后将所得粉末在 1000 °C 的吸气氩气下退火两小时 [1] 并在氩气下装瓶。 X 射线粉末衍射数据的分析表明 SRM 材料在衍射特性方面是均匀的。

认证值：22.5 °C 温度下的认证晶格参数为

0.543 114 4 nm ± 0.000 008 nm

由该值及其扩展不确定度 (k = 2) 定义的区间主要由 B 类不确定度决定，该不确定度是从对测量数据及其分布的技术理解中估计出来的。 NIST 认证值是 NIST 对其准确性有最高信心的值，因为所有已知或可疑的偏差来源都已被调查或考虑在内。 认证值和不确定度是根据 ISO/JCGM 指南 [2] 中描述的方法计算的。 被测量是晶格参数。 计量溯源性是长度的 SI 单位，以纳米表示。

信息值：认证数据的分析包括对洛伦兹分布的全宽半最大值 (FWHM) 进行细化，以说明样本引起的展宽。 FWHM 项随 1/cos θ 变化的角度依赖性被解释为尺寸引起的展宽。获得的值与大约 0.4 µm 的平均体积加权域尺寸一致。术语随 tan θ 变化，解释为微应变，细化为零。计算峰值位置的信息值在表 1 中给出。通过激光散射确定的典型粒度分布在图 1 中给出。信息值被认为是 SRM 用户感兴趣的值，但不够充分可用信息来评估与该值相关的不确定性。信息值不能用于建立计量溯源性。

认证到期：NIST SRM 640f - 硅粉 标准品 的认证在规定的不确定性范围内无限期有效，前提是按照本证书中的说明处理和存储 SRM（参见“存储说明"）。不需要对此 SRM 进行定期重新认证。如果 SRM 损坏、污染或以其他方式修改，则认证无效。

储存说明

SRM 640f 硅粉标准品在氩气下装瓶以防止受潮。 不使用时，将未使用的粉末部分密封在原瓶中或以类似或更好的防潮方式存放。

来源

材料来源：硅来自 Siltronic AG（德国慕尼黑）。 粉碎由 Hosokawa Micron Powder Systems (Summit, NJ) 进行。