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美国NIST的 SRM 640f 硅粉(X射线衍射仪校正标准品)旨在通过粉末衍射法确定,校准X射线衍射线位置和线形。
SRM8988二氧化钛粉末粒度分布标准品(NIST)旨在用于评估和校准用于测量 0.1 μm 至 0.5 μm 粒径范围内的粒径分布 (PSD) 值的设备。
RM 8786 过滤器空白标准品(美国NIST)主要用于评估用于表征国家空气质量监测计划的大气细颗粒物 (PM) 碳成分的分析方法。
RM8785过滤介质空气颗粒物标准品(美国NIST)主要用于评估用于表征国家空气质量监测计划的大气细颗粒物 (PM) 碳成分的分析方法。