SRM454非合金铜XI标准品(美国NIST)适用于铜材料的痕量分析，适用于所有适用于非合金铜成分分析的技术，特别适用于用光学发射分析方法进行校准。

SRM 457非合金铜IV标准品(美国NIST)旨在用于验证铜材料痕量元素分析的化学和仪器分析方法。

SRM 458铍-铜(17510)标准品(美国NIST)采用0.50至1.18mm筛孔(35~16目)大小的芯片形式。它主要用于化学分析方法。

SRM 459铍-铜(17200)标准品(美国NIST)采用0.50至1.18mm筛孔(35~16目)大小的芯片形式。它主要用于化学分析方法。

SRM 460铍铜合金标准品(美国NIST)为芯片形式，尺寸分别为0.50和1.18mm筛口(35目和16目)。用于化学分析方法中。