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SRM 2000高分辨率X射线衍射标准品测定

发布时间: 2024-07-05  点击次数: 187次

NIST SRM 2000 高分辨率X射线衍射标准品,是一种为HRXRD社区提供国际单位制(SI)可追踪的校准标准的材料。高分辨率X射线衍射(HRXRD)标准品是一种用于X射线衍射实验的标准样品,通常具有高度的结晶性和规则的晶体结构,能够产生高度规则的衍射图案。这些标准品在X射线衍射实验中起到关键的作用,主要用于校准仪器和检验实验精度。

 

NIST SRM 2000 高分辨率X射线衍射标准品的一个单元通常包括标称50 nm的25 mm×25 mm×0.725 mm双抛光(100)取向单晶Si。它提供了关于Si(220) d间距、透射面到晶面晶片以及参考波长的反射中的表面到Si(004)布拉格角等关键参数的信息。

 

这些标准品在材料科学、物理学、化学和工程学等领域中具有重要的应用,用于研究材料的晶体结构、相变、缺陷和应力等性质。通过使用这些标准品,研究人员可以准确地校准他们的X射线衍射设备,从而获得更可靠和准确的实验结果。


在HRXRD实验中,标准品的选择对于获得准确和可靠的结果至关重要。它们应该具有已知的晶体结构和物理性质,以便与实验样品进行比较和验证。通过使用这些标准品,研究人员可以确保实验结果的准确性和可靠性,并更好地理解材料的微观结构和性能。

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